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模块的功率循环老化试验/什么是功率循环测试/功率循环的测试标准/功率循环测试机构

更新时间:2020-04-14 信息编号:1002330
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模块的功率循环老化试验主要研究器件的封装可靠性问题 1.由于IGBT 模块多层结构及不同材料间热膨胀系数的不匹配,在反复的热循环冲击下,容易引起材料的疲劳老化。 2.功率循环加速老化是通过高频通断给器件施加功率,产生热损耗,使器件温度发生周期性波动,形成热冲击,产生热电应力,加速老化进程。 秒级功率循环: 测试目的: 1. 通过对待测试样循环施加、关断负载电流,并将负载电流的导通时间限制在<5s范围内,达到在靠近芯片附近的互2 .连层(chip-near interconnection)上施加目标应力的目的。 3. 验证或建立待测试样的寿命模型 4. 加速模块磨损和退化(chip-near互连) 5. 验证模块典型失效模式:键合线失效 测试标准:IEC 60749-34:2011 实验条件: 负载电流加载时间<5S 负载电流幅值>0.85 · Icn 栅极电压:典型值15V 失效准则:试验后集电极-发射极饱和电压升高5%;试验后热阻值升高20% 分钟级功率循环: 测试目的: 1. 通过对待测试样循环施加、关断负载电流,并将负载电流的导通时间限制在>15s范围内,达到在离芯片互连较远 的互连层(chip-remote interconnection)处施加目标应力的目的。 2. 验证或建立待测试样的寿命模型 3. 加速模块磨损和退化(chip-remote互连) 4. 验证模块典型失效模式:焊接分层 测试标准:IEC 60749-34:2011 实验条件: 负载电流加载时间>15S 负载电流幅值>0.85 · Icn 栅极电压:典型值15V 失效准则:试验后集电极-发射极饱和电压升高5%;试验后热阻值升高20% 广州广电计量检测股份有限公司(股票代码:002967),是原国家信息产业部军工电子602计量测试站,已通过国家实验室(CNAS)、国防实验室(DILAC)和总装军用实验室认可,获得中国计量认证(CMA)和GJB9001B质量体系认证,检测与认证结果得到国际公认。并且在汽车电子领域深耕多年,已经获得30多家整车厂家和40多家一级供应商的第三方合格实验室认可,如大众、日产、丰田、本田、吉利、长城、比亚迪等;法雷奥、大陆、捷普、马瑞利、麦格纳、博世、爱信精机、电装、摩比斯、佛吉亚、李尔、德尔福。
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