供应:无限制
关键词:温度冲击试验箱
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温度冲击试验箱DWC系列 ·该冲击试验箱为待测品静置之冷热交替冲击方式，广泛使用于电子零组件测试，半导体，电子线路板，金属化学，材料等测试设备。试验箱下部为低温蓄冷区，上部为高温蓄热区，试件（待测品）放置在试验箱中部，高温冲击时，上风门打开，形成高温内循环。低温冲击时，上风门关闭，下风门打开，形成低温内循环。 该冲击试验箱的较大特点是：试件(待测品)静止不动，使用户避免了因试件移动带来的诸多不便。 标准配置：φ50测试孔盖个、照明灯一盏、记录仪一台； 选配部件：计算机通讯接口，工业Pc及控制软件； 试验方法标准： GB2423.1-89试验A， 低温试验方法． GB2423.2-89试验B， 高温试验方法 IEC68-2-1试验A IEC68-2-2试验 BGJB1032-90环境应力筛选方法 型 号 DWC 01 03 温度室范围 -60℃～+150℃(+200℃) 低温室范围 -75℃～-10℃ 温度冲击范围 -40℃～80℃ 温度波动度 ±0.5℃ 温度均匀度 ≤2℃ 温度误差 ±3℃ 温度恢复时间 5min 试验时间 ≥30分钟 内空尺寸（mm） 500×500×450 700×700×640 功率（KW） 12 25
