P-170 探针式轮廓仪_产品中心
P-170 探针式轮廓仪
2022-07-02  信息编号:1660696
价格:¥0.00/
供应:无限制
关键词:轮廓仪
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P-170是cassette-to-cassette探针式轮廓仪,将行业良好的P-17台式系统的测量性能和经过生产验证的HRP?-260的机械传送臂相结合。 这样的组合为机械传送臂系统提供了*低的拥有成本,适用于半导体,化合物半导体和相关行业。 P-170可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。 该系统结合了UltraLite?传感器、恒力控制和*平扫描平台,因而具备出色的测量稳定性。通过点击式平台控制、*视和侧视光学系统以及带光学变焦的高分辨率相机等功能,程序设置简便**。P-170具备用于量化表面形貌的各种滤镜、调平和分析算法,可以支持2D或3D测量。并通过图案识别、排序和特征检测实现全自动测量。 image.p*gimage.p*g image.p*gimage.p*g 主要功能 · 台阶高度:几纳米至1000μm · 微力恒力控制:0.03至50mg · 样品全直径扫描,无需图像拼接 · 视频:500万像素高分辨率彩色摄像机 · 圆弧校正:消除由于探针的弧形运动引起的误差 · 软件:简单易用的软件界面 · 生产能力:通过测序、图案识别和SECS/GEM实现全自动化 · 晶圆机械传送臂:自动加载75mm至200mm不透明(例如硅)和透明(例如蓝宝石)样品 image.p*g 主要应用 · 台阶高度:2D和3D台阶高度 · 纹理:2D和3D粗糙度和波纹度 · 形状:2D和3D翘曲和形状 · 应力:2D和3D薄膜应力 · 缺陷复检:2D和3D缺陷表面形貌 image.p*g 工业应用 · 半导体 · 化合物半导体 · LED:发光二极管 · MEMS:微机电系统 · 数据存储 · 汽车
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